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Stage - Bac+5 - Etude Post-Mortem des Électrodes Commerciales des Batteries Li-Ion H/F

  • Stage
  • Grenoble (Isère)

Description de l'offre

Description

La maturité de la technologie des batteries Li-ion qui est aujourd'hui à l'échelle industrielle nécessite des nouvelles approches de caractérisation post-mortem pour répondre à une quantité considérable d'échantillons à analyser avec une cadence élevée d'analyse pour l'acquisition et le traitement des données. Le criblage à haut-débit (la miniaturisation et l'automatisation de tests) est une approche largement utilisée dans des domaines de synthèse organique, la médecine, et la pharmaceutique mais peu déployée dans le cas des caractérisations post-mortem pour les matériaux de batteries.Dans ce contexte, ce stage porté par le LITEN/DTNM/STDC/LCAE a pour objectif de développer une nouvelle méthodologie post-mortem par criblage à haut-débit pour l'analyse de surface d'électrodes positives et négatives vieillies et présentant des hétérogénéités locales de dégradation. Ce stage pourra profiter d'échantillons issus de projets menés au LITEN/DEHT/S2TC/LAPS en lien avec la prédiction du vieillissement des matériaux actifs de batteries commerciales (Projet COMUTES) ou le développement de modèles multi-physiques intégrant les mécanismes de dégradation (Projet THOR).Le(la) candidat(e) développera une méthodologie d'échantillonnage pour caractériser l'ensemble des composants internes actifs de la batterie. Le(la) candidat(e) prélèvera les échantillons d'électrodes sur des batteries vieillies à différentes SOH% (State Of Heath) et pourra réaliser des tests électrochimiques (cyclage et mesure d'impédance) en pile bouton sur les zones d'intérêt afin d'évaluer les niveaux de dégradation. Les échantillons passeront ensuite aux analyses de surface pour pouvoir corréler leurs pertes de performance avec les modes de dégradation des matériaux actifs. L'analyse des échantillons par XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) sera mise au point en modifiant des paramètres d'acquisition (temps d'acquisition, énergie de passage) et l'automatisation des traitements des données. Ce dernier point pourrait être élaboré par les méthodes statistiques de type PCA (Principal Component Analysis). Des analyses ToF-SIMS (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) et SEM (Scanning Electron Microscopy) pourront éventuellement être déployées pour compléter ces études.

Lettre de motivation requise

Non

Date de début

23 sept., 2024

Expérience

Sup_7

Fonction

Commercial_professionnel

Formation

RJ/Qualif/Technicien_B2

Secteur

Ind_hightech_telecom

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